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試具C與試具D探針的區(qū)別與應(yīng)用

日期：2024-11-28 06:21

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摘要：試具C與試具D探針的區(qū)別與應(yīng)用，符合IEC61032、IEC60529、GB4208、GB/T16842、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。主要用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

一、試具C探針
產(chǎn)品概述：符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。
產(chǎn)品用途：用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

1、探棒長度：100mm

2、探棒直徑：2.5mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長度：100mm

6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2017表6（第1位特征數(shù)字3）。

●制帶3±0.3N推力。

二、試具D探針
產(chǎn)品概述：符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。、
產(chǎn)品用途：用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。

產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：

1、探棒長度：100mm

2、探棒直徑：1mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長度：100mm

● 制帶1±0.1N推力。

試具C與試具D探針的使用方法：

試具C是IP3X防護等級試驗，主要用于低壓配電柜，燈具等產(chǎn)品的外殼防護等級試具，而試具D是IP4X外殼防護等級試驗，主要應(yīng)用于高壓配電柜防護等級試驗。

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