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晶振測試儀測量方法

日期：2024-11-28 08:37

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摘要：

打開包裝，將測試儀器和電源線，測試盒取出，放在干凈，通風(fēng)，無塵的環(huán)境下。操作如下：

1 將電源線一頭插入儀器的電源插座上（插緊），另一頭接入市電（220V，50-60HZ）。接通電源后，前面板左上方的綠色指示燈亮。

2 將測試盒的測試接口接入測試儀前面板插測處，（注意：接插件的缺口在插入時應(yīng)聽到“噠”聲。）

3．打開前面板左下方的電源開關(guān)。即按下紅色件，當(dāng)前面示窗顯示10，000000000。同時左上方閘門指示燈亮，并閃動。閘門時間燈：“1S”亮，功能在自校指示燈亮，右上方指示在MHZ。說明測試儀器一切正常，此時顯示為：10MHE。

4．移動功能鍵可選擇測頻，測誤差和頻率設(shè)置。

5．頻率的測量：前面板右邊有兩個測量接口,輸入接口可做有源信號的測試。插測接口可做晶體的測量，做測量時需用附件——晶體測試盒。（注意：兩個接口不能做同時測量。）

6.頻率誤差的測量:將功能選擇呈”誤差”.將被測晶體插入測試盒的晶體插入口,顯示窗口就可顯示被測晶體的PPM值.如被測晶體偏負(fù)，顯示窗口顯示“-”符號。如被測晶體偏正，顯示窗口則不加符號。前面板右上方單位指示在PPM上。

7．移動鍵可改變?nèi)訒r間（即測試速度）。取樣時間分別有：0_。01S；0_。1S；1S；10S。0_.01S速度*快，10S速度*慢。為保證測試精度準(zhǔn)確，請盡可能慢速測量。因為取樣速度越快，精度相對越低。建議用0_。1S或1S測量。

8.設(shè)置：設(shè)置是對被測頻率而設(shè)置的頻率比對標(biāo)準(zhǔn)。如被測晶體的頻率是非顛倒32_。768KHG，儀器設(shè)置頻率就顯示32_。768KHG。如改變了比對標(biāo)準(zhǔn)（即設(shè)置的頻率），所測量的結(jié)果就不準(zhǔn)確。故本儀器出廠設(shè)置在本世紀(jì)內(nèi)32_。768KHG上。如果所測晶體頻率沒有改變，不要去動設(shè)置功能鍵。如果測量結(jié)果遠(yuǎn)離正常值，請查看設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)是否在所需測量的標(biāo)準(zhǔn)頻率上。

9．注意：前面板右下方的插測接口不能金屬短路，否則將損壞該儀器。

10．在測量1MHZ以下的頻率必須將干擾鍵按下。如不按下干擾鍵，則測量結(jié)果不準(zhǔn)確。在測量MHZ頻率時則不可按下干擾鍵。

11．當(dāng)所測量的頻率大于5V時，請按下衰減鍵。

12．若由于操作不當(dāng)而造成儀器死機(jī)（即不能進(jìn)入工作狀態(tài)）可關(guān)機(jī)。將紅色鍵彈出后按上述步驟重新啟動。

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