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IP67級(jí)防水測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法
IP(InternationalProtection)防護(hù)等級(jí)系統(tǒng)是由IEC(InternationalElectroTechnicalCommission)所起草。將燈具依其防塵、防止外物侵入、防水、防濕氣之...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-23 21:37
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開關(guān)插座灼熱絲性能測(cè)試方法
開關(guān)插座類等電氣產(chǎn)品，在出廠前都必須通過國(guó)家規(guī)定的各種測(cè)試，其中就包括阻燃性能。今天，我們主要給大家介紹下開關(guān)插座的阻燃測(cè)試方法——灼熱絲測(cè)試方法。開關(guān)插座所涉及到的“阻燃”并不是說當(dāng)火災(zāi)發(fā)生時(shí)，產(chǎn)品不會(huì)燃燒；...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 23:49
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PTI漏電起痕試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法
漏電起痕測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T4207-2012、IEC60112:2009 《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》GB/T4207、IEC60112標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體絕緣材料耐電痕化和相比電痕化指數(shù)的測(cè)...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 23:46
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IK外殼防護(hù)機(jī)械碰撞試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法
[項(xiàng)目介紹]IK代碼的排列代碼字母(國(guó)際機(jī)械防護(hù)一一internationalmechanicalprotection)特征數(shù)字組合(00至10)
發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 23:43
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IP67防護(hù)等級(jí)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法
IP等級(jí)系統(tǒng)提供了一個(gè)以電器設(shè)備和包裝的防塵、防水和防碰撞程度來對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分類的方法，這套系統(tǒng)得到了多數(shù)歐洲認(rèn)可，并在IED529（BSEN60529：1992）外包裝防護(hù)等級(jí)（IPcode）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。IP等級(jí)...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 23:40
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配電柜ip55防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)要求與測(cè)試方法
保護(hù)等級(jí)多以IP后跟隨兩個(gè)數(shù)字來表示，數(shù)字用來明確保護(hù)等級(jí)。第1個(gè)數(shù)字表明設(shè)備的抗塵范圍，或者人們?cè)诿芊猸h(huán)境中不受傷害的程度。一是防止固體異物進(jìn)入等級(jí)，等級(jí)為6；第2個(gè)數(shù)字顯示了設(shè)備的防水程度。p代表防止進(jìn)水的...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-21 22:37
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CX-QWA-5石英鐘表測(cè)試儀的應(yīng)用與測(cè)試方法
石英鐘測(cè)試儀QWA-5A過秒儀是目前與國(guó)外產(chǎn)品同檔次的多功能手表測(cè)試儀，具有很強(qiáng)的抗干擾能力和功能、、高可靠性等特點(diǎn)，以石英鐘表測(cè)試為主，還可以測(cè)試機(jī)械手表的日差。儀器采用液晶屏數(shù)碼顯示；可測(cè)試石英鐘表的日差、...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-21 22:34
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時(shí)鐘晶振32.768khz頻率與誤差的測(cè)試方法
時(shí)鐘晶振32.768khz頻率與誤差的測(cè)試方法由于使用了32766作為分頻系數(shù)，因此32766Hz是不需要校準(zhǔn)的基準(zhǔn)頻率。不要把32768Hz看得太重，32766Hz可看成新的標(biāo)稱頻率。TamperPin的頻率...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-19 22:12
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石英鐘表晶體測(cè)試儀的使用方法
石英鐘表晶體測(cè)試儀的使用方法用途：◆廣泛用于石英鐘表工業(yè)屆的精密測(cè)量的儀器,主要用于測(cè)量鐘表用的石英晶體頻率的精度,及測(cè)量各類石英鐘表,主機(jī)板,PDA,DSC,筆記本電腦時(shí)間準(zhǔn)確度的儀器.◆ 可以測(cè)量鐘表的日誤...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-19 21:44
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SMD3225貼片晶振測(cè)試儀的測(cè)試方法
SMD3225貼片晶振測(cè)試儀的測(cè)試方法隨著電子產(chǎn)品的發(fā)展，貼片晶振的應(yīng)用越來越越多，那么如何去測(cè)試貼片的晶振性能呢，比如貼片的晶振頻率，晶振的誤差，晶振的頻率是否在標(biāo)稱范圍之內(nèi)。 因?yàn)轶w積很小，目前國(guó)內(nèi)很少?gòu)S...
發(fā)布時(shí)間：2023-04-19 21:18
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